全顎インプラントフレームの垂直間隙：口腔内スキャンと写真測量の模型比較
押さえるべきポイント
マルチユニットアバットメントを30 Ncmで締結し、各取得データからチタン製バーを設計・切削して、修正Sheffield試験で垂直間隙を測定した。
写真測量2群の平均間隙はPSより小さかったが、PSとの有意差が明記された写真測量群はICamのみだった。
間隙は下顎右側第一小臼歯位置で最も大きく、この傾向は主にPS群とPIC群でみられた。
研究を読み解く
原文抄録に基づく日本語要約。全文翻訳ではありません。
4本のインプラントを備えた下顎無歯顎模型で、口腔内スキャナーPrimescan（PS）と写真測量ICam4D・PICから作製したチタンフレームを各試験群2個ずつ評価した。平均垂直間隙はラボスキャナー対照22.65±7.279 μm、ICam 24.10±7.991 μm、PIC 30.52±9.809 μm、PS 33.21±13.84 μmだった。有意差が報告されたのは対照対PSおよびPS対ICamで、写真測量2群間に有意差はなかった。
診療との接点を考える
編集上の考察。個別の治療指示ではありません。
編集考察：デジタル印象からフレーム製作までの工程を適合の観点で比較する資料となる。間隙の平均値の差を、そのまま患者転帰の差と結び付けることはできない。
限界と注意点
- 編集考察：単一の無歯顎模型と各試験群2個のフレームによる実験であり、口腔内条件や装置全般への一般化には限界がある。
- 編集考察：評価項目は垂直間隙であり、合併症、患者の快適性、長期補綴成績への影響は抄録から判断できない。
AIによる執筆と別工程の原文照合。歯科医師未監修。初版：2026-09-16、更新：2026-09-16。照合日：2026-09-16
原文・出典
In Vitro Comparison Between Complete-Arch Implant-Supported Frameworks Using Intraoral Scanning and Photogrammetry.
Conejo J, Ordway M, Yoo TH, Fraiman HP, Atria PJ, Retana L, Blatz MB, Prott LS.
The International journal of prosthodontics
原著公開：（初回公開日・書誌情報）
出典確認：2026-09-16。診療分野：補綴（仮分類）